왜 모든 웨이퍼 IR 센서에 대해 스트레스 테스트를 하는가?
웨이퍼 제조 과정에서는 아주 작은 전기 방전만으로도 전체 실리콘 제품군이 망가질 수 있습니다. 이는 정말 끔찍한 상황입니다. 그래서 우리는 ‘단순 점검’만으로는 충분하다고 생각하지 않습니다. 우리 공장을 떠나는 모든 램프와 센서는 반드시 완전한 내전압 및 절연 저항 테스트를 거칩니다. 예외는 없습니다.
약점을 찾아내는 방법
우리는 이러한 부품들을 그들의 정상적인 작동 전압보다 훨씬 높은 전압으로 가동시킵니다. 즉, 부품들이 고장 나도록 유도하는 것입니다.
왜냐하면, 실험실에서부터 극소한 균열이나 불순물이 발견된다면, 그 제품이 고객의 기계 내에서 고장 나는 것보다 낫기 때문입니다. 만약 절연이 무너지거나 누설 전류가 급증한다면, 그 제품은 폐기됩니다.
왜 단순히 일부 제품만 테스트하지 않는가?
어떤 사람들은 왜 각 배치에서 몇 개의 제품만 테스트하지 않느냐고 묻습니다. 하지만 반도체 업계에서는 1%의 고장률도 치명적입니다.
우리는 가열 요소와 외부 케이스 사이의 저항 값을 매우 중요하게 여깁니다. 전류가 누설될 가능성이 전혀 없도록 해야 합니다. 접지 결함은 기계를 멈추게 할 뿐만 아니라, 전기 방전으로 인해 웨이퍼 표면이 오염될 수도 있습니다. 그런 상황은 아무도 원하지 않습니다.
문제점
물론, 이렇게 엄격한 테스트를 하는 데에는 시간이 걸립니다. 이로 인해 생산 속도가 느려집니다. 하지만 이것이야말로 고장이 없는 부품을 제공할 수 있는 유일한 방법입니다.
하지만 문제는, 이러한 센서들이 우리 공장을 떠나면 그것은 고객의 손에 들어간다는 것입니다. 이들은 매우 정밀한 장비입니다. 만약 기술자가 센서를 떨어뜨리거나 설치하는 과정에서 케이스에 긁힘이 생긴다면, 그 센서의 절연 기능은 무효가 됩니다. 우리가 테스트한 대로 절연 기능이 계속 작동하도록 하려면, 반드시 규정된 지침을 준수해야 합니다.
결국, 우리는 전압 유지 능력, 누설 전류, 그리고 저항 값과 같은 숫자들만을 확인합니다. 복잡한 방법은 아니지만, 이 방법을 통해 고객의 장비가 예상치 못한 고장 없이 계속 작동할 수 있도록 하는 것입니다.